Kollabiert das elektromagnetische Feld die Wellenfunktion geladener Teilchen?

Lassen Sie uns in einem Elektron-Doppelspalt-Experiment zwei geladene Platten hinter den Spalten platzieren, um zu versuchen, das Muster auf dem Bildschirm nach oben und unten zu bewegen.

Was wird passieren? Verschiebt es nur das Interferenzmuster auf dem Bildschirm oder wäscht es vollständig aus?

Wenn es es auswäscht, was ist das minimale Feld, das das Muster nicht beeinflusst? Da ich nicht glaube, dass das Elektron-Doppelspalt-Experiment in einer Umgebung durchgeführt wurde, in der alle Felder genau Null waren, gelang es ihnen dennoch, das Muster zu erhalten.

Dieser Wikipedia-Artikel zum Doppelspalt-Experiment beantwortet diese Frage für Sie, aber dieser Teil könnte Sie besonders interessieren (mit dem dazugehörigen Artikel): „wenn man nicht darauf besteht, dass die Methode verwendet wird, um zu bestimmen, durch welchen Spalt jedes Photon geht absolut zuverlässig sein, man kann immer noch ein (degradiertes) Interferenzmuster erkennen. - elearning.physik.uni-frankfurt.de/data/FB13-PhysikOnline/…
Ich bin immer etwas erstaunt, wenn ich einen Artikel über ein Experiment lese und nebenbei lese, dass es sich um ein theoretisches „Experiment“ handelt.

Antworten (2)

Wenn wir die internen Moden der geladenen Platten vernachlässigen können, verändern sie lediglich das Potential, in dem sich Elektronen ausbreiten, dh das Potential der Spalte. Je nach Konfiguration kann es das Interferenzmuster verändern, aber es zerstört nicht die Interferenz.

Wenn die Platten andererseits ihre eigenen Moden haben, können sie Dephasierung und/oder Dekohärenz verursachen und die Interferenz zerstören. Dies ist auch der Fall, wenn Elektronen an ein elektromagnetisches Feld gekoppelt sind und Energie verlieren/aufnehmen oder einfach von Photonen gestreut werden können.

Es muss beachtet werden, dass das Doppelspaltexperiment ein Gedankenexperiment ist – obwohl es wörtlich realisiert wurde, können die relevanten Phänomene in vielen physikalischen Situationen und Konfigurationen untersucht werden. Beispielsweise wurde die Zerstörung des Interferenzbildes in Festkörper-Aharonov-Bohm-Interferometern ausführlich analysiert.

https://commons.m.wikimedia.org/wiki/File:Moellenstedt_biprisma_voltage_shadow.JPG Es zeigt den Einfluss eines elektrischen Feldes auf Streifen.

https://commons.m.wikimedia.org/wiki/File:Moellenstedt_biprisma_schematic_arrangement.JPG Dies zeigt, wie das Experiment mit Elektronen im Allgemeinen angeordnet war.

Als Ergebnis können Sie feststellen, dass das Potenzial des Materials, das die Schlitze bildet, für Änderungen in den Abmessungen der Fransen verantwortlich ist. Kann man also sagen, dass das Potential überhaupt für die Randzonen verantwortlich ist?

Können Sie den Wiki-Artikel verlinken, der diese Bilder verwendet?
@Calmarius: G. Möllenstedt und H. Düker: Beobachtungen und Messungen an Biprisma-lnterferenzen mit Elektronenwellen. In: Zeitschrift für Physik. Nr. 145, 1956, Seiten 377-397. Es tut mir Leid. Es ist auf Deutsch. Und die Quelle ist geschützt. Wenn Sie mit Deutsch vertraut sind, können Sie meinen Auszug Elektronenbeugung lesen
Entschuldigung, ich verstehe kein Deutsch ... Ist der Punkt Ihres Bildes also, dass sie einen Elektronenstrahl mit einem EM-Feld fokussiert haben und trotzdem Streifen haben?
@ Calmarius Möllensted et al. verwendet eine punktförmige Elektronenquelle und lässt die Elektronen durch das Biprisma. Elektronen wurden von dem Draht abgelenkt. Diesmal war das elektrische Potential Null. Durch Erhöhen des Potentials ändern sich die Fransen. Das haben sie gesehen. Die Schlussfolgerung, dass die elektrischen Felder der Oberflächenelektronen des Drahts und das elektrische Feld des Elektronenstrahls ein diskretes EM-Feld bilden. Und dieses Feld ist - auch bei externem Nullpotential - für Streifen verantwortlich. Der letzte Satz ist meine Schlussfolgerung und glaube nicht daran.
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